WI-6500AL全自动晶圆缺陷检测系统由自动化上下料系统、视觉检测系统、控制软件等组成，支持25片晶圆的自动缺陷检测。该系统可检测晶圆盒中晶圆数量和位置，快速定位缺陷位置，提取缺陷图像，判别缺陷类型，并将结果存储在生产线系统数据库中。本产...
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WIT-220AL全自动晶圆光电测试系统综合考虑稳定性、电噪声处理、空间布局等设计要求，采用精密运动控制系统，高性能隔振系统，结合自主研发图像软件算法，实现高稳定性小模斑芯片光性能和高精度电性能测试，支持全自动晶圆光栅耦合或者端面耦合测试...
