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  • CA系列硅光芯片自动耦合测试系统由亚微米级高精度移动平台、高性能隔振系统、多方位视觉检测系统构建而成。该系统采用自主研发上位机软件、融合图像识别及人工智能算法,实现自动对光、自动压接探针卡等操作,中间过程无需人工参与,大大提高测试效...

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    CA 硅光芯片自动耦合测试系统
  • WI 自动晶圆缺陷检测系统由机器视觉检测系统、自动化上下料系统、自动化检测系统、控制软件组成,支持25个晶圆片(1个晶圆盒)的自动缺陷检测。该系统可检测出晶圆盒中的晶圆数量和位置,快速检测缺陷位置,提取缺陷图像,最后生成缺陷图,同时将结...

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    WI 自动晶圆缺陷检测系统
  • WAT 高功率晶圆测试系统设备部件国产化率高达90%以上。采用密闭腔体形式,将运动构件、制热构件、 制冷构件以及测试使用的晶圆卡盘、探针台、探针臂等部件集中在密闭腔体中,构建安全、稳定的功率器件晶圆级测试环境,满足高温、低温、高压、 高流...

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    WAT 高功率晶圆测试系统
  • PicoQuant最先进的增益开关皮秒激光器是一款结构紧凑、独立的解决方案,专为满足生命科学和材料科学应用的严格要求而设计。该激光系统可在皮秒范围内提供精确、高质量的激光脉冲,是时间分辨荧光光谱和成像的理想工具。我们的激光系统设计得既紧凑...

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    单色增益开关型皮秒激光器—NEW
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