东隆科技致力于为光通信用户提供更先进、更稳定、更可靠的测试解决方案,推出了一系列光学测量测试系统。
今日,重点推荐高分辨光学链路诊断系统(OCI)与光学矢量分析系统(OCI-V)这两款光通信测量系统神器,围绕它们的测量原理、测量参数、产品应用进行PK,您会如何选择?

OCI高分辨光学链路诊断系统
▪ 单端反射式测量
▪ 分布式回损、插损、光谱、群延时测量

OCI-V光矢量分析系统
▪ 双端透射式测量
▪ 自校准
测量原理有何不同?
高分辨光学链路诊断系统(OCI)采用的是OFDR光频域反射技术,检测待测光纤中背向瑞利散射信号,实现对光纤链路的全方位诊断;
光学矢量分析系统(OCI-V)采用线性扫频光源对带测器件进行扫描,并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵,进而获得各光学参数。
测量参数有哪些?
高分辨光学链路诊断系统(OCI)
▪ 分布式插损、回损、光谱、群延时等光学参数;
光学矢量分析系统(OCI-V)
▪ PDL(偏振相关损耗)
▪ PMD(偏振模色散)
▪ IL(插损)
▪ GD(群延时)
▪ CD(色散)等
注明:它们在测量不同波长下的各参数值时,系统设备显示上也有所差异,OCI显示横坐标为长度,纵坐标为反射;OCI-V显示横坐标为波长,纵坐标为各待测参数。
产品应用知多少?
高分辨光学链路诊断系统(OCI)
▪ 光器件
▪ 光模块测量
▪ 光纤长度精确测量
▪ 硅光芯片测量
▪ 光谱
▪ 群延时测量等
光学矢量分析系统(OCI-V)
▪ 无源器件(平面波导器件、硅光器件、波长可调器件、放大器等)测量
测试示例图

OCI测量光纤链路,测得各位置处的分布式损耗,空间分辨率高达10μm

OCI-V测量HCN气体吸收室,测得不同波长下的插损,波长精度可达1.6pm
总结
高分辨光学链路诊断系统(OCI)与光学矢量分析系统(OCI-V),均具备自校准,无需人为干预等特点,其稳定性非常好,也能精准测量各待测参数,并且极大节省测试时间。