光矢量分析系统OCI-V

光矢量分析系统OCI-V

OCI-V是一款快速检测光学器件损耗、色散和偏振等相关参数的光矢量分析系统。其原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描,并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵,进而获得器件插损、色散、偏振相关损耗、偏振模色散等光学参数。该系统采用独特光路设计以及先进算法,实现智能校准,操作简单,极大节省测试时间。

产品特点
  • 自校准
  • 测量长度:200m
  • 波段:C+L、O波段(可选)
  • 1秒内测量多种光学参数
主要应用
  • 平面波导器件
  • 硅光器件
  • 光纤器件
  • 波长可调器件、放大器、滤波器

测量参数:

  • 偏振相关损耗PDL
  • 偏振模色散PMD
  • 插损IL
  • 群延时GD
  • 色散CD
  • 琼斯矩阵参数
  • 光学相位
参数

主要参数

测量长度

200

m

C+L 波段:1525~1625O 波段:1265~1340

nm

波长分辨率

1.6

pm

波长精度

±1.0

pm

损耗IL

动态范围

60

dB

插损精度

±0.1

dB

分辨率

±0.05

dB

群延时 GD)

量程

6

ns

精度

±0.2

ps

损耗范围

45

dB

色散CD

精度

±10

ps/nm

偏振相关损耗(PDL)

动态范围

40

dB

精度

±0.05

dB

偏振模色散(PMD

量程

6

ns

精度

±0.1

ps

损耗范围

40

dB

硬件

主机功率

50

W

通讯接口

USB

-

光纤接口

FC/APC

-

尺寸

D 345 * W 390 * H 165

mm

重量

7.5

kg

储藏温度

0 ~ 50

工作温度

10 ~ 40

工作湿

10 ~ 90

%RH


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