扫频光谱分析系统SSA
SSA是一款测量光学器件透射光谱响应的分析系统。其原理采用线性扫频光源对待测器件进行快速扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的光谱响应，进而得到待测器件在不同波长下的损耗分布。该系统还可选配GD、CD、PDL、PMD等光学参数测量，系统内置扫频光源，可应用于光学测量及分析系统的二次开发。
产品特点
主要应用
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平面波导器件
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硅光器件
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光纤器件
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波长可调器件、放大器、滤波器
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光学测量分析二次开发
参数
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主要参数
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损耗（IL）
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测量长度 1
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100
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m
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波段 2
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1525 ~ 1565；1290 ~ 1330
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nm
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波长分辨率
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1.6
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pm
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波长精度
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±1.0
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pm
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动态范围
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60
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dB
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插损精度
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±0.1
|
dB
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分辨率
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±0.05
|
dB
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扫频光源
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功率 3
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1
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mW
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波长 2
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1525 ~ 1565；1290 ~ 1330
|
nm
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波长精度
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5
|
pm
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扫描速度
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10 ~ 100
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nm/s
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边摸抑制比
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60
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dBc
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消光比
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15
|
dB
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硬件
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主机功率
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50
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W
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通讯接口
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USB
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-
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光纤接口
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FC/APC
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-
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尺寸
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D 450 * W 450 * H 166
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mm
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重量
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18.5
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kg
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储藏温度
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0 ~ 50
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℃
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工作温度
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10 ~ 40
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℃
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工作湿度
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10 ~ 90
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%RH
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备注：
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可拓展GD、CD、PDL、PMD等光学参数测量；
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可升级扫描范围；
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可升级高功率版本（2mW/5mW）。
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