扫频光谱分析系统SSA

扫频光谱分析系统SSA

SSA是一款测量光学器件透射光谱响应的分析系统。其原理采用线性扫频光源对待测器件进行快速扫描,并结合相干检测技术获取待测器件的光谱响应,进而得到待测器件在不同波长下的损耗分布。该系统还可选配GD、CD、PDL、PMD等光学参数测量,系统内置扫频光源,可应用于光学测量及分析系统的二次开发。
产品特点
  • 多功能
  • C+LO波段(可选)
  • 可扩展扫频光源
主要应用
  • 平面波导器件
  • 硅光器件
  • 光纤器件
  • 波长可调器件、放大器、滤波器
  • 光学测量分析二次开发
参数
主要参数
损耗(IL)

测量长度 1 100 m
波段 2 1525 ~ 1565;1290 ~ 1330 nm
波长分辨率 1.6 pm
波长精度 ±1.0 pm
动态范围 60 dB
插损精度 ±0.1 dB
分辨率 ±0.05 dB
扫频光源

功率 3 1 mW
波长 2 1525 ~ 1565;1290 ~ 1330 nm
波长精度 5 pm
扫描速度 10 ~ 100 nm/s
边摸抑制比 60 dBc
消光比 15 dB
硬件

主机功率 50 W
通讯接口 USB -
光纤接口 FC/APC -
尺寸 D345 * W390 * H165 mm
重量 7.5 kg
储藏温度 0 ~ 50
工作温度 10 ~ 40
工作湿度 10 ~ 90 %RH
备注:
  1. 可拓展GD、CD、PDL、PMD等光学参数测量;
  2. 可升级扫描范围;
  3. 可升级高功率版本(2mW/5mW)。
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