- 功能强大的64位数据采集和分析软件
- 单点，2D，和3D的TTTR数据采集，包含有可在线预览FLIM，FCS，time trace和TCSPC数据的功能
- FLIM、快速FLIM和FLIM-FRET
- FCS、FCCS、FLCS、PIE-FCS，符合相关，总相关分析
- FRET、PIE-FRET
- 荧光随时间的分析及单分子荧光爆发现象分析
- 各向异性分析
- TCSPC寿命拟合，包括先进的误差分析
- 基于"STUPSLANG"语言的用户自定义编译脚本功能
荧光寿命成像和相关分析软件SymPhoTime 64可以被用于时间分辨共聚焦数据采集实验，如：
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数据采集 |
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可联用TCSPC模块 |
HydraHarp 400，PicoHarp 330， PicoHarp 300, TimeHarp 260, MultiHarp 150 |
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可联用荧光系统 |
MicroTime 200
激光扫描显微系统 (LSM)，支持Nikon, Olympus或 Zeiss品牌 |
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探测通道数量 |
1 到 8 detectors |
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采集模式 |
单点采集，多点采集，2D成像(XY，XZ，YZ)，3D成像(XYZ)，定时成像(XYT)，用于调节系统时使用的示波器模式
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采集预览 |
FLIM, FCS, FLCS 和FCCS, Time Trace, TCSPC柱状图 |
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自动化测量 |
Z轴逐层成像, 定时成像, 图片缝合, 多点测量 |
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硬件控制 |
PDL 828 "Sepia II" 激光驱动器 E-710, E-725, E-727和宽范围扫描仪控制器(Physik Instrumente) MicroTime 200的快门系统 MicroTime 200中宽视场荧光相机IDS uEye USB3 |
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数据分析 |
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总体特点 |
时间门控
TCSPC binning 最小平方拟合, 最大可能性估算拟合, IRF解卷积拟合，尾部拟合，自举误差分析 TCSPC曲线的全局化分析 图形化交互界面 |
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成像 |
FLIM, FLIM-FRET, 荧光强度FRET, 各向异性成像, (时间门控) 荧光强度成像
Pattern Matching, 快速Pattern Matching |
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相关分析 |
FCS, FCCS, FLCS, PIE–FCS |
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FRET |
PIE (脉冲交错激发) |
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STED |
STED, 门控STED, STED-FLIM, 交错脉冲 STED及共聚焦, 分辨率估计 |
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荧光强度Trace |
分子闪烁(On/Off 柱状图), 计数率柱状图 (PCH), 爆发量柱状图, 强度门控制TCSPC, 荧光寿命 Traces, 寿命柱状图, BIFL |
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稳态各向异性 |
包含物镜校正系数 |
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导出数据格式 |
BMP, ASCII, TIFF, BIN |
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用户自定义脚本编译 (STUPSLANG) |
用户自定分析步骤, 拟合功能, 多条件筛选 |
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电脑CPU规格要求 |
四核或更高 |
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CPU主频 |
2.2 GHz (或更高) 四核 CPU |
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内存容量 |
最小4 GB (推荐16/32 GB) |
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操作系统 |
Windows 10 x64 |
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硬盘容量 |
>= 100 MB (不包括数据存储) |
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显示器 |
Full HD Display |
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加密方式(HASP) |
USB |
