日前，国内发布了一款能快速检测光学器件损耗、色散和偏振等相关参数的光矢量分析系统OCI-V。它是一款低调而热销的神器，是测损耗、色散和偏振等相关参数的救星。其核心的原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵，进而获得器件插损、色散、偏振相关损耗、偏振模色散等光学参数。
测量参数：
• 偏振相关损耗PDL
• 偏振模色散PMD
• 插损IL
• 群延时GD
• 色散CD
• 琼斯矩阵参数
• 光学相位
产品特点：
• 测量长度：200m
• 自校准
• 波段：C+L、O波段（可选）
• 1秒内测量多种光学参数
产品应用：
• 平面波导器件
• 硅光器件
• 光纤器件
• 波长可调器件、放大器、滤波器 案例测试图
OCI-V光学矢量分析系统采用独特光路设计以及先进算法，实现智能校准，操作简单，极大节省测试时间，是一款实现光学器件损耗、色散和偏振测试分析的理想工具。
光学矢量分析系统OCI-V也将亮相9月16日-18日在深圳举办“第23届中国国际光电博览会(CIOE 2021)”，届时欢迎您莅临东隆科技的展位：2号馆E060参观与交流。
