OCI1500是一款国内自主研发的超高精度光学链路诊断仪，原理基于光频域反射（OFDR）技术，单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断。OCI1500可轻松查找并判别光纤链路中的宏弯、连接点和断点，并精确测量回损、插损和光谱等参数，其事件点定位精度高达0.1 mm。OCI1500不仅可用于光学链路诊断，还可拓展分布式光纤传感功能，实现应变和温度高分辨测量。OCI1500具有较高空间分辨与回损测量精度，可以快速并准确地获取高度集成性硅光链路任意位置的回损特性。
• 波长范围：1525~1625 nm或1275~1345 nm
• 空间分辨率：10 μm@50 m、20 μm@100 m
• 测量长度：100 m（可定制升级）
• 自校准，无需人为干预，稳定性好
• 可扩展分布式温度、应变测量
• 支持软硬件定制，如网口通讯、远程控制和系统集成
• 波长范围：1525~1625 nm或1275~1345 nm
• 空间分辨率：10 μm@50 m、20 μm@100 m
• 测量长度：100 m（可定制升级）
• 自校准，无需人为干预，稳定性好
• 可扩展分布式温度、应变测量
• 支持软硬件定制，如网口通讯、远程控制和系统集成
测试案例：
下面详细描述了如何使用超高精度光学链路诊断仪OCI1500对其硅发射芯片进行测量。
硅发射芯片的原理图主要包括四个主要组件：一维光栅耦合器，可变光衰减器，强度调制器和偏振调制器。将超高精度光学链路诊断仪OCI1500和芯片连接，对其芯片进行反射率测量。其中超高精度光学链路诊断仪OCI1500设备的空间分辨率为10 um。
通过超高精度光学链路诊断仪OCI1500测试，获得上图的测试结果，在硅发射器芯片内部会出现几个反射峰。光栅的序号与对应通道的序号相同。为了确定反射峰的位置，将信号添加到调制器中，对反射峰的变化情况进行观察和分析。
文章详情：
DOI:https://doi.org/10.1103/PhysRevApplied.15.064038
特别邀请；
超高精度光学链路诊断仪OCI也将亮相9月1日-3日在深圳举办“第23届中国国际光电博览会 (CIOE 2021) ”，届时欢迎您莅临东隆科技的展位：16号馆E060参观与交流。
