低成本光学链路诊断系统OLI

OLI是一款低成本高精度光学链路诊断系统。其原理基于光学相干检测技术,利用白光的低相干性可实现光纤链路或光学器件的微损伤检测。通过读取最终干涉曲线的峰值大小,精确测量整个扫描范围内的回波损耗,进而判断此测量范围内链路的性能。

该系统轻松查找并精准定位器件内部断点、微损伤点以及链路连接点。其事件点定位精度高达几十微米,最低可探测到-80dB光学弱信号,广泛用于光纤或光器件损伤检测以及产品批量出货合格判定。

产品特点
  • 超高采样分辨率和定位精度
  • 超宽动态范围
  • 可定制引纤长度,便于匹配实际测量环境
  • 可定制扫描测量长度
  • 支持多通道测量升级
主要应用
  • 光纤微裂纹检测
  • 硅光芯片、PLC波导瑕疵损耗检测
  • FA光纤阵列链路性能检测
  • 光器件、光模块内部耦合点、连接点性能检测
参数
主要参数
基础参数

工作波长 1 1290 ~ 1330 nm
测量长度 2 6 cm
采样分辨率 1 μm
长度分辨率 0.1 mm
测量时间 <10 s
动态范围 -10 ~ -80 dB
硬件

输入电压 AC 220/110V;DC 12V -
主机功率 50 W
通讯接口 USB -
引纤长度 3 1 m
光纤接口 FC/APC -
尺寸 D 390 * W345 * H165 mm
重量 7.5 kg
储藏温度 0 ~ 50
工作温度 0 ~ 40
工作湿度 10 ~ 70 %RH
备注:
  1. 可选其它波段;
  2. 可选配12cm或定制其他长度;
  3. 引纤长度可定制。
上一条:
下一条:
Top