- 超高采样分辨率和定位精度
- 采样分辨率1 μm
- 回损测量范围-10 dB~90 dB
- 可定制引纤长度，便于匹配实际测量环境
- 可定制扫描测量长度
- 支持多通道测量升级
OLI是一款低成本高精度光学链路诊断系统。其原理基于光学相干检测技术，利用白光的低相干性可实现光纤链路或光学器件的微损伤检测。通过读取最终干涉曲线的峰值大小，精确测量整个扫描范围内的回波损耗，进而判断此测量范围内链路的性能。
该系统轻松查找并精准定位器件内部断点、微损伤点以及链路连接点。其事件点定位精度高达几十微米，最低可探测到-80dB光学弱信号，广泛用于光纤或光器件损伤检测以及产品批量出货合格判定。
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主要参数 |
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基础参数 |
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工作波长1 |
1290~1330/1530~1570 |
nm |
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测量长度2 |
6 12 40 100 |
cm |
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采样分辨率 |
1 |
μm |
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定位精度 |
0.1 |
mm |
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测量时间 |
<25 |
s |
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回损测量范围 |
-20~-100 |
dB |
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回损重复精度 |
±3 |
dB |
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硬件 |
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输入电压 |
AC 220/110V；DC 12V |
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主机功率 |
60 |
w |
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通讯接口 |
USB |
- |
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引纤长度3 |
1 |
m |
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光纤接口 |
FC/APC |
- |
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尺寸 |
D 345 * W 390 * H 165 |
mm |
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重量 |
7.5 |
kg |
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储藏温度 |
0~50 |
℃ |
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工作温度 |
0~40 |
℃ |
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工作湿度 |
10~70 |
%RH |
备注： 1.可选其它波段； 2.可定制其他长度； 3.引纤长度可定制。
