近年来随着光通信的高速发展，市场上围绕着光通信的光器件种类众多、加上产品迭代快，所以对测量仪的要求更高。而在新兴平面光波导和硅光芯片领域，其对仪表测量的精确性、稳定性和操作便利性等各方面提出了前所未有的挑战，由此东隆科技经过多年的技术研发并攻克以上众多难题，于去年成功发布了国产多功能光矢量分析仪（OCI-V）。

光矢量分析仪（OCI-V）

光矢量分析仪（OCI-V）是一款快速检测光学器件损耗、色散和偏振等相关参数的光矢量分析仪。其原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵，进而获得器件插损、色散、偏振相关损耗、偏振模色散等光学参数。该产品采用独特光路设计以及先进算法，实现智能校准，操作简单，极大节省测试时间。

光矢量分析仪（OCI-V）一经推出就受到目标用户的好评，同时也不断吸纳市场反馈意见，专注设备创新升级，不断优化设备性能，以提供给客户更优质的产品。

而作为国产业内的先驱者企业东隆科技自研的光矢量分析仪于近日推出损耗80dB高动态范围测试选项。如下图所示：

图1.60dB动态范围

图2.80dB动态范围

产品特点：
• 自校准
• 测量长度：200m
• 波段：C+L、O波段（可选）
• 1秒内测量多种光学参数

产品应用：
• 平面波导器件
• 硅光器件
• 光纤器件
• 波长可调器件、放大器、滤波器

测试参数：
• 偏振相关损耗PDL
• 偏振模色散PMD
• 插损IL
• 群延时GD
• 色散CD
• 琼斯矩阵参数
• 光学相位