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空间分辨率高达10微米的OLI光纤微裂纹检测仪,能有效检测FA耦合面测量

发布时间:2022-06-01阅读次数:225次

FA简称光纤阵列,是把光纤按照一定的间距排列固定起来形成的光器件,它是光进出光器件的通道。光纤阵列分为单芯光纤阵列(SFA)和多芯光纤阵列(MFA),光纤阵列有常规FA、45°光纤悬出FA、光纤转90°FA。


45°FA利用端面全反射使光路90°转角与VCSEL或者PD耦合,这种方法耦合效率高,但苦于45°端面研磨工艺有较大难度,工艺制造成本高,生产良率不高。光纤转90°FA通常与硅光芯片中的光栅进行耦合,不过直接对准耦合,会存在一定的角度失配,尽管国内厂商经过这几年的努力与克服,已有不少厂家能够批量制造提高良率,但FA耦合面检测一直是通信行业所关注的热点话题。

OLI光纤微裂纹检测仪

FA耦合一般都是在一些很小的尺寸里面,例如光器件、光模块、硅光芯片等等,这些器件级的检测对设备要求极高。而OLI光纤微裂纹检测仪是专门针对这种微小尺寸的检测利器,其空间分辨率高达10微米,能实现芯片内部结构可视化。


OLI测量FA耦合

多芯FA耦合面测量,测试结果显示该耦合位置回损为-62dB,耦合情况良好


由此可见,OLI光纤微裂纹检测仪能精准定位器件内部断点、微损伤点、耦合面以及链路连接点,以亚毫米级别分辨率探测光学原件内部,且广泛用于光器件、光模块损伤检测以及产品批量出货合格判定。

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