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OCI PK OCI-V,哪款最得您心?

发布时间:2021-12-01阅读次数:207次

东隆科技致力于为光通信用户提供更先进、更稳定、更可靠的测试解决方案,推出了一系列光学测量测试系统。

今日,重点推荐高分辨光学链路诊断系统(OCI)光学矢量分析系统(OCI-V)这两款光通信测量系统神器,围绕它们的测量原理、测量参数、产品应用进行PK,您会如何选择?


OCI高分辨光学链路诊断系统

▪ 单端反射式测量

▪ 分布式回损、插损、光谱、群延时测量


OCI-V光矢量分析系统

▪ 双端透射式测量

▪ 自校准

测量原理有何不同?

高分辨光学链路诊断系统(OCI)采用的是OFDR光频域反射技术,检测待测光纤中背向瑞利散射信号,实现对光纤链路的全方位诊断;


光学矢量分析系统(OCI-V)采用线性扫频光源对带测器件进行扫描,并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵,进而获得各光学参数。

测量参数有哪些?

高分辨光学链路诊断系统(OCI)

▪ 分布式插损、回损、光谱、群延时等光学参数;


光学矢量分析系统(OCI-V)

▪ PDL(偏振相关损耗)

▪ PMD(偏振模色散)

▪ IL(插损)

▪ GD(群延时)

▪ CD(色散)等


注明:它们在测量不同波长下的各参数值时,系统设备显示上也有所差异,OCI显示横坐标为长度,纵坐标为反射;OCI-V显示横坐标为波长,纵坐标为各待测参数

产品应用知多少?

高分辨光学链路诊断系统(OCI)

▪ 光器件

▪ 光模块测量

▪ 光纤长度精确测量

▪ 硅光芯片测量

▪ 光谱

▪ 群延时测量等


光学矢量分析系统(OCI-V)

▪ 无源器件(平面波导器件、硅光器件、波长可调器件、放大器等)测量

测试示例图


OCI测量光纤链路,测得各位置处的分布式损耗,空间分辨率高达10μm


OCI-V测量HCN气体吸收室,测得不同波长下的插损,波长精度可达1.6pm

总结


高分辨光学链路诊断系统(OCI)与光学矢量分析系统(OCI-V),均具备自校准,无需人为干预等特点,其稳定性非常好,也能精准测量各待测参数,并且极大节省测试时间。

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