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中国制造如何在无源器件测量大放异彩?

发布时间:2021-08-20阅读次数:55次
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日前,国内发布了一款能快速检测光学器件损耗、色散和偏振等相关参数的光矢量分析系统OCI-V它是一款低调而热销的神器,是测损耗、色散和偏振等相关参数的救星。其核心的原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描,并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵,进而获得器件插损、色散、偏振相关损耗、偏振模色散等光学参数。 

测量参数:

• 偏振相关损耗PDL

• 偏振模色散PMD

• 插损IL

• 群延时GD

• 色散CD

• 琼斯矩阵参数

• 光学相位 


产品特点:

• 测量长度:200m

• 自校准

• 波段:C+L、O波段(可选)

• 1秒内测量多种光学参数 


产品应用:

• 平面波导器件

• 硅光器件

• 光纤器件

• 波长可调器件、放大器、滤波器 案例测试图


产品参数:OCI-V光学矢量分析系统采用独特光路设计以及先进算法,实现智能校准,操作简单,极大节省测试时间,是一款实现光学器件损耗、

OCI-V光学矢量分析系统采用独特光路设计以及先进算法,实现智能校准,操作简单,极大节省测试时间,是一款实现光学器件损耗、色散和偏振测试分析的理想工具。


光学矢量分析系统OCI-V也将亮相9月16日-18日在深圳举办“第23届中国国际光电博览会(CIOE 2021)”,届时欢迎您莅临东隆科技的展位:2号馆E060参观与交流。

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