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中国制造如何在硅光芯片测试大放异彩?

发布时间:2021-08-16阅读次数:137次

OCI1500是一款国内自主研发的超高精度光学链路诊断仪,原理基于光频域反射(OFDR)技术,单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断。OCI1500可轻松查找并判别光纤链路中的宏弯、连接点和断点,并精确测量回损、插损和光谱等参数,其事件点定位精度高达0.1 mm。OCI1500不仅可用于光学链路诊断,还可拓展分布式光纤传感功能,实现应变和温度高分辨测量。OCI1500具有较高空间分辨与回损测量精度,可以快速并准确地获取高度集成性硅光链路任意位置的回损特性。

产品特点:

• 波长范围:1525~1625 nm或1275~1345 nm

• 空间分辨率:10 μm@50 m、20 μm@100 m

• 测量长度:100 m(可定制升级)

• 自校准,无需人为干预,稳定性好

• 可扩展分布式温度、应变测量

• 支持软硬件定制,如网口通讯、远程控制和系统集成


产品应用:

• 波长范围:1525~1625 nm或1275~1345 nm

• 空间分辨率:10 μm@50 m、20 μm@100 m

• 测量长度:100 m(可定制升级)

• 自校准,无需人为干预,稳定性好

• 可扩展分布式温度、应变测量

• 支持软硬件定制,如网口通讯、远程控制和系统集成


测试案例:

下面详细描述了如何使用超高精度光学链路诊断仪OCI1500对其硅发射芯片进行测量。

硅发射芯片的原理图主要包括四个主要组件:一维光栅耦合器,可变光衰减器,强度调制器和偏振调制器。将超高精度光学链路诊断仪OCI1500和芯片连接,对其芯片进行反射率测量。其中超高精度光学链路诊断仪OCI1500设备的空间分辨率为10 um。


通过超高精度光学链路诊断仪OCI1500测试,获得上图的测试结果,在硅发射器芯片内部会出现几个反射峰。光栅的序号与对应通道的序号相同。为了确定反射峰的位置,将信号添加到调制器中,对反射峰的变化情况进行观察和分析。


文章详情:

 DOI:https://doi.org/10.1103/PhysRevApplied.15.064038


特别邀请;

超高精度光学链路诊断仪OCI也将亮相9月1日-3日在深圳举办“第23届中国国际光电博览会 (CIOE 2021) ”,届时欢迎您莅临东隆科技的展位:16号馆E060参观与交流。

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