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硅光波导测量指南——OCI高分辨光学链路诊断仪

发布时间:2021-03-31阅读次数:30次
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聚焦于光通信器件测试服务解决方案的提供商——东隆科技重点推介OCI高分辨光学链路诊断仪,OCI是一款超高精度光学链路诊断仪,原理基于光频域反射(OFDR)技术,单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断。OCI可轻松查找并判别光纤链路中的宏弯、连接点和断点,并精确测量回损、插损和光谱等参数,其事件点定位精度高达0.1mm。OCI不仅可用于光学链路诊断,还可拓展分布式光纤传感功能,实现应变和温度高分辨测量。OCI具有较高空间分辨与回损测量精度,可以快速并准确地获取高度集成性硅光链路任意位置的回损特性。

产品特点

•波长范围:

1525~1625 nm或1275~1345 nm

•空间分辨率:

10 μm@50 m、20 μm@100 m

•测量长度:100 m(可定制升级)

•自校准,无需人为干预,稳定性好

•可扩展分布式温度、应变测量

•支持软硬件定制,如网口通讯、远程控制和系统集成

产品应用

• 光器件、光模块测量

• 光纤长度精确测量

• 硅光芯片测量

• 光谱、群延时测量


测试案例

插入损耗测试

光纤链路通常包含多连接点、弯曲和多器件, OCI 特有的分布式高精度插损测量能力,可以快速准确地测量并定位链路各事件点的插损。

案例中用可调衰减器在衰减2 dB、3 dB、5 dB时重复测量 10次,插损测量重复性误差小于 0.1 dB。



回波损耗测试

硅光链路具有高度集成性,传统回损测试方案无法精确定位、测量硅光链路某一位置或器件回损特性。OCI具有较高空间分辨与回损测量精度,可以快速并准确地获取全链路任意位置的回损特性。

如图所示为平面波导延迟线。选取芯片中心0.2 m长度区域计算回损,其值为-57.95 dB。同样,研究人员也可通过OCI测量光纤与硅光芯片耦合点回波损耗来评估耦合效率。


光纤长度测量

OCI在50 m测量范围内空间分辨率为10 μm,非常适用于高精度光学延时测量领域,如光纤延时、硅光延时、空间光路延时以及迈克尔逊干涉仪的精准测量。



啁啾光栅光谱及延时测量

OCI采用扫频光源,覆盖C+L波段,根据气体吸收线定位波长,可以实现1pm光谱测量精度和1ps群延时测量精度。


以啁啾光栅为例,测量距离-反射率曲线、光谱及延时曲线,测量空间分辨率为10 μm。


根据延时曲线测量结果,可以计算出光栅的平均色散补偿系数为11.1979 ps/nm。

产品参数


备注:

1.长度可定制;

2.不同模式的测量时间不同;

3.可定制其他波段;

4.扩展功能为升级模块,需要单独购买;

5.实际测量值为延时,输入折射率可得到长度值;

6.高精度模式下获得;

7.温度测量范围取决于传感器。

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