日前，东隆科技推出了一款新产品——SSA 扫频光谱分析系统，它是一款测量光学器件透射光谱响应的分析系统，其原理采用线性扫频光源对待测器件进行快速扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的光谱响应，进而得到待测器件在不同波长下的损耗分布。
SSA 扫频光谱分析系统不仅可选配GD、CD、PDL、PMD等光学参数测量，系统内置扫频光源，还可应用于光学测量及分析系统的二次开发。
SSA 扫频光谱分析系统到底“神”在哪里呢？跟着小编一起往下看：
产品特点
▪ 多功能
▪ C+L、O波段（可选）
▪ 可扩展扫频光源
产品应用
▪ 平面波导器件
▪ 硅光器件
▪ 光纤器件
▪ 波长可调器件、放大器、滤波器
▪ 光学测量分析二次开发
应用图例
测试案例一：HCN气体吸收室
测试案例二：滤波器
产品参数
