LGA50高分辨光学链路诊断仪

LGA50高分辨光学链路诊断仪


LGA50是一款超高精度光学链路诊断仪,原理基于光频域反射(OFDR)技术,测量长度50m,单次测量 可实现从器件到链路的全范围诊断。LGA50可轻松查 找并判别光纤链路中的宏弯、连接点和断点,并精确测 量回损、插损和光谱等参数,其事件点定位精度高达 0.1mm。


产品特点
• 波长范围:1525~1615nm
• 空间分辨率:10μm@50m
• 测量长度:50m
• 自校准,无需人为干预,稳定性好
主要应用
• 光器件、光模块测量
• 光纤长度精确测量
• 硅光芯片测量
• 光谱、群延时测量
参数

主要参

测量长度 1

50

m

空间分辨率

10

μm

测量时间 2

<10

s

灵敏度

-128

dB

回损动态范围

80

dB

插损动态范围3

16

dB

插损分辨率

0.05

dB

插损精度

±0.1

dB

盲区

-

光谱

波长范围

1525 ~ 1615

nm

波长分辨率

0.015

pm

波长重复精度

±1.0

pm

群延时精度

1.0

ps

硬件

输入电压

AC 220/110V 和 DC 12V

-

主机功率

50

W

通讯接口

USB

-

光纤接口

FC/APC

-

尺寸

D 390 * W 345 * H 165

mm

重量

10

kg

储藏温度

0 ~ 50

工作温度

10 ~ 40

工作湿度

<90

%RH

备注:

1. 长度可扩展到100m;

2. 不同模式下测量时间不同;

3. G·652D光纤瑞利散射高于底噪16dB。

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