LGA50是一款超高精度光学链路诊断仪,原理基于光频域反射(OFDR)技术,测量长度50m,单次测量 可实现从器件到链路的全范围诊断。LGA50可轻松查 找并判别光纤链路中的宏弯、连接点和断点,并精确测 量回损、插损和光谱等参数,其事件点定位精度高达 0.1mm。
主要参数 |
||
测量长度 1 |
50 |
m |
空间分辨率 |
10 |
μm |
测量时间 2 |
<10 |
s |
灵敏度 |
-128 |
dB |
回损动态范围 |
80 |
dB |
插损动态范围3 |
16 |
dB |
回损、插损分辨率 |
0.05 |
dB |
回损、插损精度 |
±0.1 |
dB |
盲区 |
无 |
- |
光谱 |
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波长范围 |
1525 ~ 1615 |
nm |
波长分辨率 |
0.015 |
pm |
波长重复精度 |
±1.0 |
pm |
群延时精度 |
1.0 |
ps |
硬件 |
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输入电压 |
AC 220/110V 和 DC 12V |
- |
主机功率 |
50 |
W |
通讯接口 |
USB |
- |
光纤接口 |
FC/APC |
- |
尺寸 |
D 450* W 450 * H 166 |
mm |
重量 |
18.5 |
kg |
储藏温度 |
0 ~ 50 |
℃ |
工作温度 |
10 ~ 40 |
℃ |
工作湿度 |
<90 |
%RH |
备注:
1. 长度可扩展到100m;
2. 不同模式下测量时间不同;
3. G·652D光纤瑞利散射高于底噪16dB。